適切な光源を用いることにより、光学系の測定も可能です。 オプティカルフラット、球面、非球面、シリンドリカル、および特異なオプティクスを、 高価なテストプレートやヌルコレクタ無しに測定することができます。 ザイデルやゼルニケの収差係数は、データから直接算出されます。 生の画像、波面、強度分布、波面の傾斜、フリンジ、および3D 画像が表示されます。 わずか35 μsec でデータを獲得するため、μCLASは振動の影響をあまり受けません。 ほとんどの測定は、普通の実験用作業台の上で行なうことができます。 加えて、μCLASは広帯域の光源においても問題なく動作します。 μCLASは、Windows 環境においてデータの収集と分析を行います。 対話形式のウィンドウには、伝播、収差係数、および単項式またはゼルニケモードが得られる解析機能を持つ、 強度分布および位相の3D 画像が表示されます。 これら全てのデータは、瞬時に表示されます。 製造工程におけるレーザー、光学部品、および光学システムの検査は、ソフトウェアを追加することにより実行が可能となります。 検査データの記録やレポートの作成は、個々のユーザーの要求に合わせて作成することができます。 Instant Phaseとその他の機能
波面センサーウェーブフロントサイエンス社独自の小型CCD センサーカメ ラには、300 〜1100 nm の波長範囲に対応する特別なマイクロレ ンズアレイが備わっています。 この校正された波面センサーは、USB ポートを介してユーザーが用意するコンピュータに接続されます。 解析およびコントロール用ソフトウェア μCLASには、専用のコントロールおよび光学解析ソフトウェアが備わっています。 操作の容易なグラフィックインター フェースは、校正、データの収集、データの表示、および解析 をメニューにより行なうことができます。 標準の解析パッケージには、以下のような光学パラメータが含まれます。
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
home | サイトマップ | 個人情報の保護 | お問い合わせ | カタログ請求 | 製品情報 | OEM | ダウンロード | イベント | 会社情報 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||