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レーザービームの解析

レーザーの性能が高まるにつれ、レーザービームのパラメータを測定し定量化するために、新しい、改良された、そしてより多機能なツールが必要とされます。これは、基本的な測定値(例えば出力パワーや波長)に加えて、光学システムを伝播するビームの状態であるM2(1/k)ファクタやストレール比などが測定可能な装置です。メレスグリオでは、パワー、パワーノイズスペクトル、ビームポインティング特性、強度プロファイル、M2、ストレール比を含む重要なレーザーパラメータ毎に、そのほとんどを測定するためのあらゆる測定器をご用意しています。 この製品群は、研究、開発、品質保証におけるレーザービームの測定や特性評価にかかわる問題点に対する、コスト効率の高い解決策となります。
■パワー、およびエネルギーの測定
CVIメレスグリオは、200 nm〜20μmの波長範囲、10pW〜30Wまでの出力パワーの範囲をカバーする多岐にわたるパワー/エネルギーメーターを製造しています。


■ビームプロファイル、およびM2の測定
ビームプロファイル測定の手法は、国際標準機構(ISO)によりISO 11146標準として定義されています。CVIメレスグリオでは、この標準に関する要求に準拠するスリットナイフエッジCCD(Charge Coupled Device)をベースとした装置に加え、M2ファクタを測定するためのアクセサリもご用意しています。ほとんどのシステムはPCを使用し、MS Windows™環境で動作します。


■ ビーム位置の測定
CVIメレスグリオのスポットオン™ ビーム位置測定システムは、コンピュータ制御のもとに動作し、大口径ポジションセンシングディテクタ(PSD)からの出力を演算処理し、表示します。製品には、精確なアライメントと位置制御用の精密4分円ディテクタ、もしくは位置データーの直線化ソフトが備わる2軸ラテラルエフェクトディテクタの2種類のディテクタをご用意しています。


■ビーム波面の測定
CLAS-2D(Complete Light Analysis System-2D)は、シャック ハルトマン センサーの原理を応用し、パルスおよびCWレーザービームのRMS波面収差、ニアフィールドおよびファーフィールド解析、MTF、ストレール比、その他様々なパラメータの解析機能が備わる総合解析システムです。


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